半導体製造プロセスが微細化することによって問題となってきたリーク電流の低減手段として,適切なものはどれか。
平成27年度 春期 応用情報技術者 問23
テクノロジ系
正解と解説
正解 ウ
リーク電流は電源が供給されている間ずっと流れます。そのため、使わないブロックの電源を切るパワーゲーティングで減らせます。
リーク電流は、トランジスタがオフでも漏れ出る電流です。製造プロセスの微細化でゲート絶縁膜が薄くなり、しきい値電圧も下がったため、リーク電流が増えました。リーク電流による電力(静的消費電力)は、回路が動いていなくても電源がつながっていれば発生します。クロックを止めたり周波数を下げたりしても、この電力はなくなりません。使用しないブロックへの電源供給を止めるパワーゲーティングで、リーク電流そのものを断てます。
ア:クロック周波数の制御は、スイッチングで生じる動的消費電力を減らす手段です。電源がつながっている限り、リーク電流は流れ続けます。
イ:クロックゲーティングは、使わないブロックへのクロックを止めて動的消費電力を減らす手法です。電源は供給されたままなので、リーク電流は残ります。
エ:電源電圧の調整は、電圧の2乗に比例する動的消費電力を主に減らす手段です。電源が供給されている限り、リーク電流はなくなりません。
出典:平成27年度 春期 応用情報技術者試験 問23
全年度から出題。10問で実力を判定します。登録不要。
出典:平成27年度 春期 応用情報技術者試験 問23(独立行政法人情報処理推進機構)
解説と用語ページは生成 AI が書き、別の生成 AI が確かめています。作り方